高密集测试点高精度垂直导电胶ACF2685JLP015

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一. 产品描述
ACF2685JLP垂直导电胶是由硅胶和金离子组成,由金离子导通,不受垂直压力不导通。常温储存时间长,操作简便。一般情况下,使用的垂直压力是2—5Kg/cm².测试板面无针痕,测试良率为90%以上(一次性对位后测试时就可以把良品和不良品分开),而且灵敏导通能力是PAD尺寸,间距,密度等,可以达到更小,更近,更高的测试效果。
二. 产品特点
1. 导电胶自身阻值很小,以实际侧板为准;
2. 非常长的开启时间;
3. 导电胶质软,对板面不留痕迹;
4. 电阻率低至4.0μΩcm;
5. 使用方法:把导电胶铺在治具的测试面直接使用,起到导电的作用,
6. 最小测试PAD,圆形能测4mil以上,矩形能测2mil*4mil以上,最小边到边间距3mil,最小PITCH为6mil;
7. 测试寿命:一般10-12万次不等,主要根据而定测试治具;
8. 同一料号可以同时制作多套测试治具,制作成本时间不会增加太多;
9. 治具轻薄,方便保存和节省空间。
三. 产品应用此导电胶垫推荐应用在测试设备上,
1. 通常使用在复合式治具及JP,ACP治具上;
2. 高密度的PCB板在测试设备上;
3. 高密度倒装IC芯片电路测试;
4. 替换传统探针测试方式。

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