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薄膜电容器逐批检验的主要技术指标有：电容量、损耗（损耗角正切值）、绝缘电阻、耐电压、可焊性、外观等，在这些指标中电容器的损耗是一个重要的指标，它直接影响薄膜
电容器的产品质量、合格率，影响企业的经济效益。薄膜电容器的损耗不是一个固定的数值，它随测试频率不同而不同，本文就薄膜电容器的损耗与测试频率的关系做一探讨。
薄膜电容器损耗频率特性
按照国家标准，测试薄膜电容器损耗tgδ时仪表的测试电压档设为0.1V或0.3V,测试频率为1KHZ，聚酯薄膜电容器的损耗要求≤0.0080,聚薄膜电容器的损耗tgδ要求≤0.0010。这些电容器往往用于直流、使用电压较低、使用频率较小的场合。但是，有些电子仪器设备使用场合如彩电行逆程电路、开关电源电路等，它们的使用频率较高在几十KHZ左右，而且有的电路有交流成分，因此要求电容器高频性能要好，即电容器在高频条件下的损耗要小。如果高频损耗大，电容器在使用过程中，电容器自身就要消耗能量，引起电容器芯子发热，终导致电容器芯子薄膜收缩，电容器失效。
薄膜电容器的高频损耗随测试频率的增加而增加，两者之间不是线性关系；聚薄膜电容器的高频损耗要比聚酯电容器的高频损耗小。由于聚薄膜电容器的高频损耗小，因此聚薄膜电容器适用于高频电路场合。
对于每个电容我们要了解清楚，才能更好的运用。
关键词：薄膜电容器，安规陶瓷电容
摘要：聚薄膜电容器的高频损耗要比聚酯电容器的高频损耗小。由于聚薄膜电容器的高频损耗小，因此聚薄膜电容器适用于高频电路场合。
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